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博源光电测量系统产品型号：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/材料的漫反射测量；物质/材料的颜色测量。【BIX-8812,透过率测量系统】应用于滤光片的衰减性能测量；玻璃等材料的透光性能测量；材料对特定波长的吸收性能测量。【BIX-8813,吸光度测量系统】应用于物质的吸光度测量研究、浓度的定量测量、吸收特性测量分析。【BIX-8814,荧光测量系统】应用于生化领域组分分析荧光测量；医药领域的定量分析测量；矿物材料等的荧光光谱特性测量。【BIX-8815,拉曼测量系统】应用于珠宝、文物贵重物品鉴定;药品成分检测分析;瓜果蔬菜等食品快速检测;化工环保监察监测。吸光度测量系统助力石油化工科研，分析油品成分及纯度。浙江半导体激光测量系统联系电话
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SIX-8001红外辐射测量系统
【概述】实际是一套有源热源检测台式红外热像仪，通过热成像及测温技术直观呈现热缺陷或整体温度分布，并可以进行过程监控。通过本系统，可以助力研究电路板热分析、微米级元器件检测、材料应力温升分析、材料热力性能分析、化学反应温度分析、化工工艺温度监测等。
【特点】~桌面在线式设计，着重过程检测和记录。~可调焦式设计，全视距清晰，见微见著。~镜头分辨力50微米，热显微成像。~专业PC端软件，丰富的检测报告内容。
【应用】~电路板热分析。~微米级元器件检测。~材料应力温升分析。~化学反应温度分析。~化工工艺温度监测。
反射率测量系统
【概述】反射率是物质/材料的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美平整表面上的反射是镜面反射，在毛糙表面上的反射是漫反射，而光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，也可以测量分析物体的反射的颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，可采用光纤进行取样测量，而对于曲面样品，采用积分球取样测量更为合适。
【特点】~样品放置方便，夹具要求不高。~操作简便、重复性好、检测快速。~方便读取全谱的反射率值和曲线。~可通过积分球采样测量材料颜色。
【应用】~物质/材料的镜面反射测量。~物质/材料的漫反射测量。~物质/材料的颜色测量。 荧光测量系统，利用荧光物质特性，检测微量物质，在生物医学科研应用普遍。
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反射率测量系统，依据光反射原理，准确测定材料反射率，为光学材料研发提供数据。浙江半导体激光测量系统联系电话
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