对通过光学系统的光束起限制作用的光学元件。它可是光学元件(透镜、反射镜等)本身的边框,也可是另外设置的带孔不透明屏。光阑中心通常在光轴上,且与光轴垂直。 光学系统的各个光学零件都由各自的镜框限定其通光孔,江苏DMS高低温光学测试系统,江苏DMS高低温光学测试系统,江苏DMS高低温光学测试系统,绝大多数情况下是圆孔。有时还在系统中加入固定的或可变的专设光孔。在所有这些光孔中,一定有一个光孔起着限制轴上点成像光束孔径角的作用;另外有一个光孔起着限制成像范围的作用。这样的光孔称为光阑:前者称孔径光阑或有效光阑;后者称视场光阑。任何光学系统必定存在这样二个光阑。高低温光学测试系统可接受定制。江苏DMS高低温光学测试系统
光学测量系统
主要特点
扩大低亮度的可测量范围
可测量的比较低亮度为0.05cd/m2 ,是传统机型( CA-2000 )的2倍。
提高耐用性
可测量次数大幅提高,约为传统机型( CA-2000 )的5倍。
使用XYZ滤镜传感器,敏感度可与人眼相媲美二维色彩分析仪CA-2500使用XYZ滤镜 (该滤镜具备与CIE 1931等色函数非常接近的光谱敏感度),与数码摄像机等设备中所使用的RGB分色滤镜相比,能够测量与人眼感光度相近的亮度和色度。
波长(m)
光谱响应度示意图
配备可适用于各种对象、用途的镜头
江苏DMS高低温光学测试系统可实现比较大化视场角测量。
一个光学系统除了要考虑高斯光学的有关问题,诸如物像共轭位置、放大率、转像和转折光路等以外,还需考虑成像范围的大小、成像光束孔径角的大小、成像波段的宽窄以及像的清晰度和照度等一系列问题。满足一系列要求的实际光学系统往往不是几个透镜的简单组合,而由一系列透镜、曲面反射镜、平面镜、反射棱镜和分划板等多种光学零件组成,并且要通过合理设置光阑、精细校正像差和恰当确定光学零件的横向尺寸等手段才能得到合乎需要的高质量系统。
标准样品尺寸比较大390mmX310mm (可接受定制);
客户样品尺寸可定制高低温腔体,比较大可到1米5;
视场角测量比较大可以到80°以上;
温控范围-40°C~120°C;
可选配PMT+光谱仪自动切换;
测试样品跟探测器在同一腔体内部,可形成比较大视场角测量;
可实现多片自动切换连续测量,不需要重新测样的等待时间;
定制进口**高低温腔体尺寸比较大可到1米5;
光纤探头与样品在同一个腔体内,可实现**大化视场角测量;
温度范围: -40°C~120°C;
测试项目:亮度,色度,光谱,视场角,响应时间等。
光纤探头与样品在同一个腔体内,可实现比较大化视场角测量,温度范围:-40℃~120℃。
扫描波长光学测量解决方案结合使用一个或多个光功率计与可调激光源 (TLS),可以支持光功率与波长关系测量。此类测量常用于确定被测器件输入功率与输出功率的比值,比值称为插入损耗,单位为 dB。当 TLS 在选中范围内调谐波长时,功率计将定时采样指定数量测量点的功率。通过一个触发信号与 TLS 扫描同步,这些样本能够实现与对应波长的精确相关。使用多个功率计可以同时测量多端口器件 (例如多路复用器、功率分离器和波长开关) 的输出。使用81600B、81940A 或 81980A TLS,以及功率计 (例如 816x 系列模块或多端口 N7744A 和 N7745A) 和**的 N7700A IL 软件,可以组成一个测量系统。这些“波长扫描”例程的编程过程非常简单,可以使用**的 816x 即插即用驱动程序,并应用 N4150A 光基础程序库 (PFL) 的测量功能进行增强。该测量装置在 TLS 后与 81610A 回波损耗模块连接,还可以测量光反射 (回波损耗)。客户客户样品尺寸可定制高低温腔体,比较大可到1米5,温控范围-40℃~120℃。江苏DMS高低温光学测试系统
光纤探头与样品在同一个腔体内,可实现比较大化视场角测量,测试项目:亮度,色度,光谱等。江苏DMS高低温光学测试系统
无强迫空气循环试验和有强迫空气循环试验非散热试验时,采用强迫空气循环,可提高热交换效率。空气循环速度愈高,热交换效率愈高。该设备主要温度控制仪采用智能数显温湿度控制仪,人性化设计的操作方法,易学易用,并且不同功能档次的仪表操作相互兼容。所以在进行这种强迫试验时,建议采用空气循环速度≥2m/s。而散热试验时,比较好的方法是采用无强迫空气循环试验。如果采用无强迫空气循环还不能满足试验要求时,应采用强迫空气循环试验。
为了确保试验箱对降温速度和温度的规定,本试验箱的制冷系统选用進口制冷压缩机所构成的复叠式制冷系统,该制冷系统具备配对有效、可信性高、应用维护保养便捷等优势,后制冷剂经截留阀绝热变形作功,这时候制冷剂温度减少。**终制冷剂根据空调蒸发器等温地从温度较高的物体放热,使被水冷却物体温度减少。如电动振动台检定规程中所限定的台面漏磁,加速度信噪比、带内带外加速度总均方根值比。 江苏DMS高低温光学测试系统
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